[发明专利]一种基于对抗样本的1比特雷达成像方法在审
| 申请号： | 202110456268.6 | 申请日： | 2021-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN113311429A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 李刚;韩江鸿;刘瑜 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01S13/89 | 分类号： | G01S13/89 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种基于对抗样本的1比特雷达成像方法，所述方法包括：发射步进频信号，采集多个天线位置中每个天线位置处的不同频点的回波信号；对所采集到的回波信号进行处理，得到所述回波信号的稀疏表征；根据所述回波信号的稀疏表征和预设的阈值参数，建立参数化成像模型，所述参数化成像模型用于输出所述回波信号的成像结果；利用对抗样本对所述参数化成像模型所输出的成像结果和所述阈值参数进行迭代更新；其中，引入的对抗样本为基于上一次更新得到的成像结果所确定的；在迭代更新过程满足预设条件时，停止迭代更新过程，获得成像结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 对抗 样本 比特 雷达 成像 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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