[发明专利]元件集使用等级评估方法、装置、存储介质及电子设备

摘要

本申请提出一种元件集使用等级评估方法、装置、存储介质及电子设备。首先，获得元件集，元件集包含至少一个元件对应的生产特征信息；基于使用等级匹配关系与元件对应的生产特征信息，确定元件对应的使用等级；基于每个元件对应的使用等级，获得元件集对应的使用等级。元件集对应的使用等级表征按照该元件集对目标产品进行生产的可控程度。当可控程度低时，工作人员可以及时调整目标产品的生产方案，更改研发方向，避免出现“产品研发周期完成后，转入大批量生产时，发现某种功能元件缺货或是停产，导致目标产品无法大批量生产，以至于需要重新验证新的物料或是更改方案”，保障目标产品正常研发和生产。