[发明专利]一种基于精密测距的天线视轴指向标校系统及方法在审
| 申请号： | 202110450156.X | 申请日： | 2021-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN113295936A | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 焦仲科;王登峰;刘玄;任帅;钟兴旺;杨姗姗;杨瑞强 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01S7/40 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 陈鹏 |
| 地址： | 710100 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种基于精密测距的天线视轴指向标校系统及方法，在微波暗室环境下建立精密测距分系统天线的地面测试标校系统，能够模拟精密测距分系统天线的多种运动工况，同时设计精密测距分系统天线方位方向及俯仰方向的运动轨迹，引入精密测距分系统微米级的测量数据，监测外界环境振动、转台转动等引入的距离变化，并利用建立精密测距分系统天线视轴指向在轨标定的等效简化模型，引入天线相位方向图的精密测距分系统及误差同步监测共同模拟星间距离变化数据，设计天线视轴指向标校的运动轨迹，建立标校估计算法的状态方程及观测方程，最终完成精密测距分系统天线视轴指向、精密测距分系统天线相位方向图的高精度标校。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 精密 测距 天线 视轴 指向 系统 方法 | ||
【主权项】：
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