[发明专利]一种检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 202110429763.8 申请日: 2021-04-21
公开(公告)号: CN113125461A 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 李鑫昌;孙振兴;肖鸣波;牛广升 申请(专利权)人: 博众精工科技股份有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/01
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬
地址: 215200 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于芯片检测技术领域,公开了一种检测装置及检测方法,该检测装置用于检测芯片的外观,检测装置包括两个以上的输送机构及两个以上的检测组件,每个输送机构均包括输送轨道及送料组件,所有输送轨道平行设置,送料组件滑动连接于输送轨道,以沿输送轨道输送芯片,检测组件的数量等于输送机构的数量,各个检测组件用于检测芯片不同的外观特征,各个检测组件均能够移动至各个输送轨道处,以检测位于各个送料组件上的芯片,即两个以上的检测组件能够分别对应检测两个以上的输送轨道输送的芯片,耗费相同的取料及输送时间能够检测多组芯片,同时避免增加额外的检测组件,提高了检测效率,同时节省了制造成本。
搜索关键词: 一种 检测 装置 方法
【主权项】:
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