[发明专利]一种基于频谱的太赫兹材料复折射率测量方法

摘要

本发明公开了一种基于频谱的太赫兹材料复折射率测量方法，包括，利用频谱测量仪进行样品测量，基于测量数据得到离散频谱上的频率透射率T(f)和时域反射特性t(τ)；将所述频率透射率T(f)表示为法布里‑珀罗干涉(FP干涉)形式，并基于所述时域反射特性t(τ)取得τ0；定义高斯函数g(τ,τ0)和其对应的频谱G(f,τ0)；基于所述高斯函数g(τ,τ0)对所述频率透射率T(f)进行处理获得更新后的频谱透射率T′(f,τ0)；基于所述处理后的频谱透射率得到所述局部极大值(极小值)组数m和复折射率实部n，并计算得到初始相位φ；根据Kramers‑Kronig关系计算所述复折射率的虚部k，得到所述样品的复折射率和吸光度。