[发明专利]芯片线性度测试方法与系统以及线性度信号提供装置在审
| 申请号： | 202110368787.7 | 申请日： | 2021-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN115184765A | 公开（公告）日： | 2022-10-14 |
| 发明（设计）人： | 李孟哲;黄柏凯 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人： | 李娜 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片线性度测试方法与系统以及线性度信号提供装置。芯片线性度测试方法，包括：将参考时钟信号以及接收器输入信号提供至待测芯片，参考时钟信号与接收器输入信号之间具有时间相位差；以及根据待测芯片中的与参考时钟信号以及接收器输入信号相对应的多个相位信号，判断待测芯片的内插电路线性度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 线性 测试 方法 系统 以及 信号 提供 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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