[发明专利]一种复合衬底、其制备方法及半导体器件有效

专利信息
申请号: 202110364992.6 申请日: 2021-04-06
公开(公告)号: CN112736173B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 至芯半导体(杭州)有限公司
主分类号: H01L33/20 分类号: H01L33/20;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 北京华创智道知识产权代理事务所(普通合伙) 11888 代理人: 彭随丽
地址: 311200 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种复合衬底、制备方法及半导体器件,所述复合衬底包括:基底,所述基底上表面靠近中间位置形成一凹槽;SiO2层,所述SiO2层形成于所述基底上表面且覆盖所述凹糟;其中,覆盖所述凹槽的SiO2层设有周期性排列的通孔;多个纳米柱,所述多个纳米柱同步形成于所述凹槽和所述SiO2层的通孔;其中,所述纳米柱的宽度小于所述SiO2层的孔径。本发明制备的复合衬底在凹槽内填充与SiO2层以及衬底的折射率具有差异的空气层,且形成的纳米柱侧壁与SiO2层通孔侧壁形成隔离带,从而提高出光效率、制得质量优良的复合衬底。
搜索关键词: 一种 复合 衬底 制备 方法 半导体器件
【主权项】:
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