[发明专利]非破坏检查装置在审
申请号: | 202110335098.6 | 申请日: | 2021-03-29 |
公开(公告)号: | CN113552148A | 公开(公告)日: | 2021-10-26 |
发明(设计)人: | 篠原正治;森田知実;染谷幸夫;相岛道秋;広田统也 | 申请(专利权)人: | 东芝IT·控制系统株式会社 |
主分类号: | G01N23/18 | 分类号: | G01N23/18;G01N23/04 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨文娟;臧建明 |
地址: | 日本东京新宿区西新宿六丁*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种非破坏检查装置(100),其可无论接头(T)的位置如何均进行准确的判定。所述非破坏检查装置(100)包括:搬送装置(1),对在上部或下部收纳有接头(T)的被检查物(W)进行搬送;放射线发生器(2a,2b),对被检查物(W)照射放射线束;放射线检测器(3a,3b),隔着搬送装置(1)与放射线发生器(2a,2b)相向地设置;图像生成部,设置于放射线发生器(2a,2b)及放射线检测器(3a,3b)的近前,对被检查物(W)进行拍摄来生成被检查物(W)的摄像图像;位置检测部(91),基于图像生成部所生成的摄像图像对接头(T)的位置进行检测;以及控制部(9),基于接头(T)的位置对放射线发生器(2a,2b)的摄像时机或由放射线发生器(2a,2b)拍摄到的图像的选择进行控制。 | ||
搜索关键词: | 破坏 检查 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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