[发明专利]一种耐高温MEMS硅压阻式压力敏感芯片在审

专利信息
申请号: 202110312564.9 申请日: 2021-03-24
公开(公告)号: CN113358251A 公开(公告)日: 2021-09-07
发明(设计)人: 高国民;赵建兵;黄炜;田开芳;牛孟霄 申请(专利权)人: 中化天康科技(南京)有限公司;中国化学工程第十四建设有限公司
主分类号: G01L1/22 分类号: G01L1/22
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 郭微
地址: 210044 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种耐高温MEMS硅压阻式压力敏感芯片,包括主体,主体包括硅片衬底,所述硅片衬底上设置有敏感电阻层和绝缘层,硅片衬底上部还形成有多孔硅结构,硅片上设置有铝膜,主体底部装设有一半封装部,半封装部内腔中设置有阻尼释放结构,硅片衬底底部设置有与封装部连接的容纳部,容纳部设置有第一吸附层和第二吸附层,第一吸附层安装在硅片衬底底部的封装面上,第二吸附层安装在半封装部上,第一吸附层和第二吸附层上分别装设有第一贴合模和第二贴合模,第一贴合模和第二贴合模上设置有位置相对错开分布的容纳孔,主体与半封装部连接处还装设导热部和透气部,主体与半封装部之间通过叠块连接,使得主体具有很好的导热性能、透气性和缓冲性。
搜索关键词: 一种 耐高温 mems 硅压阻式 压力 敏感 芯片
【主权项】:
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