[发明专利]一种用于热脉冲法响应信号校正的全场校正方法有效
| 申请号： | 202110312270.6 | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN113125867B | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 郑飞虎;张煜;张冶文 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01R29/14 | 分类号： | G01R29/14 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 赵继明 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于热脉冲法响应信号校正的全场校正方法，包括：测量待测样品薄膜的实际热响应电流信号，并转化为频域表达式，然后根据预先获取的系统传递函数，对实际热响应电流信号进行校正；系统传递函数的获取包括：对待测样品薄膜进行金属化处理，然后施加低电场，接着对待测样品薄膜一侧的金属电极击打短激光，测量待测样品薄膜的实测热响应电流信号；根据激光和待测样品薄膜材料参数，计算待测样品薄膜的理想位移电流信号；将实测热响应电流信号和理想位移电流信号分别转化为频域表达式，从而计算系统传递函数。与现有技术相比，本发明能降低系统误差对响应信号的干扰，在此基础上进行数据分析可获得更准确的空间电荷分布信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 脉冲 响应 信号 校正 全场 方法 | ||
【主权项】：
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