[发明专利]缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110295450.8 | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN112967264A | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 王新江;张士龙;方仕杰;陈恺 | 申请（专利权）人： | 深圳市商汤科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/73;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质，所述方法包括获取待检测产品的产品图像以及与所述产品图像匹配的模板图像；对所述产品图像及所述模板图像分别进行特征提取，得到所述产品图像的第一特征图以及所述模板图像的第二特征图；对所述第一特征图与所述第二特征图之间的相关性进行分析，得到所述第一特征图与所述第二特征图之间的相关性注意力图；基于所述相关性注意力图对所述第一特征图、所述第二特征图进行融合，得到第一融合特征图；对所述第一融合特征图进行检测，得到所述产品图像的缺陷检测结果。本公开实施例可提高缺陷检测的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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