[发明专利]一种SGT MOSFET器件及其接触孔的制造方法在审
申请号: | 202110271647.8 | 申请日: | 2021-03-12 |
公开(公告)号: | CN113035840A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 彭飞;赵毅;石亮 | 申请(专利权)人: | 重庆万国半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L23/538 | 分类号: | H01L23/538;H01L23/60;H01L29/78;H01L21/336;H01L21/768 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 张仁杰 |
地址: | 400700 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明公开了一种SGT MOSFET器件及其接触孔的制造方法,涉及功率半导体器件制造领域,包括如下步骤:A、栅极沟槽、源极沟槽、屏蔽栅沟槽以及预埋ESD沟槽;B、元胞结构的制备;C、离子注入制备ESD、体区、源区;D、栅极接触孔、源极接触孔、屏蔽栅接触孔、ESD接触孔的制作。本发明通过将ESD预埋入沟槽之中,减小栅极接触孔、源极接触孔、屏蔽栅接触孔、ESD接触孔的深度差,实现一次光刻工艺完成所有接触孔的制作,减少了一道光刻工艺流程及一道生长ESD多晶硅的工艺流程,节约成本,降低了制造工艺的难度。 | ||
搜索关键词: | 一种 sgt mosfet 器件 及其 接触 制造 方法 | ||
【主权项】:
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