[发明专利]基于同一体系细胞样本测量激发发射光谱线性分离定量FRET系统校正因子的方法及应用有效

专利信息
申请号: 202110270760.4 申请日: 2021-03-12
公开(公告)号: CN113049555B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 陈同生;孙晗;庄正飞 申请(专利权)人: 师大瑞利光电科技(清远)有限公司;华南师大(清远)科技创新研究院有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 刘瑜
地址: 511518 广东省清远市高新技术产业开发区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于同一体系细胞样本测量激发发射光谱线性分离定量FRET系统校正因子的方法及应用。本发明方法包括如下步骤:在同一体系(如一皿细胞中),利用ExEm‑spFRET数据得到权重因子图Wd、Wa、Ws,然后确定不同FRET质粒单独转染细胞的Ws/Wa和Ws/Wd范围RSA和RSD;再利用该范围针对成像视野制作数据筛选的模板并进行数据筛选,拟合直线并得到ExEm‑spFRET系统校正因子KA/KD和QA/QD。本发明方法只需要一皿细胞样品就能完成校正因子的测量,避免不同FRET质粒单独测量存在不同对比度和背景信号的问题,提高测量系统校正参数的准确性,降低使用门槛,提高了效率。
搜索关键词: 基于 同一 体系 细胞 样本 测量 激发 发射光谱 线性 分离 定量 fret 系统 校正 因子
【主权项】:
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