[发明专利]多点表面位移测量方法及装置有效
| 申请号： | 202110245684.1 | 申请日： | 2021-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN112880572B | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 王云泽;吴旭;武同;刘玉杰 | 申请（专利权）人： | 杭州国翌科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/03 | 分类号： | G01B11/03 |
| 代理公司： | 重庆双马智翔专利代理事务所(普通合伙) 50241 | 代理人： | 顾晓玲 |
| 地址： | 311200 浙江省杭州市萧山区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种多点表面位移测量方法及装置。该方法为：在待测物表面确定多个待测点位，并额外确定至少一个位置固定的参考点位；根据所有点位的位置确定摄像单元的固定位置，并为每个点位设置摄像单元拍摄预置点，采集每个点位的基准图；控制摄像单元在每个点位对应的预置点逐点位巡航拍摄，采集每个点位的测量图；将每个点位的基准图和测量图进行比较，计算得到各点位的测量位移量；根据参考点位的位移量对待测点位的位移量进行位移补偿，得到各待测点位的实际位移量。该方法通过一个摄像单元完成待测物表面的多点位位移测量，效率高，成本低，引入参考点位对待测点位的位移量进行位移补偿，提高了位移测量的精度和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 多点 表面 位移 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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