[发明专利]一种用于光学成像微系统模块的老化测试插座在审
| 申请号: | 202110241927.4 | 申请日: | 2021-03-04 |
| 公开(公告)号: | CN113030523A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
| 发明(设计)人: | 李逵;赵超;郭雁蓉;匡乃亮;王艳玲;师航波 | 申请(专利权)人: | 西安微电子技术研究所 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01M11/00 |
| 代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 李鹏威 |
| 地址: | 710065 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种用于光学成像微系统模块的老化测试插座,透光镜安装框架的下端面连接有透光镜头,透光镜安装框架的上端面连接有印制电路板,印制电路板的上端面连接有基板,基板上设置有若干测针,基板固定在光学成像微系统模块安装框架的下端面,光学成像微系统模块安装框架中用于安装待测光学成像微系统模块,待测光学成像微系统模块通过测针与印制电路板导通,基板和印制电路板上开设有与透光镜头连通的通孔;散热模块安装框架活动连接在光学成像微系统模块安装框架的上端面,散热模块安装框架的底部连接有导热元件,散热模块安装框架的顶部设置有散热元件。本发明能够实现光学采集测试、系统性能测试和老化筛选测试,提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 光学 成像 系统 模块 老化 测试 插座 | ||
【主权项】:
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