[发明专利]埋入结构内部金属体参数的高分辨率无损检测装置在审
| 申请号： | 202110236920.3 | 申请日： | 2021-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN113093289A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 裴文鹏;卞雷祥;崔陈莉;张培培;李洪涛;邵逸人;李佳阳;钟名尤 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01V3/08 | 分类号： | G01V3/08;G01B7/06;G01B7/12 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 岑丹 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种埋入结构内部金属体参数的高分辨率无损检测装置，包括：信号发生模块、功率放大模块、发射线圈、磁电传感器阵列、信号调理模块、多通道数据采集模块、FPGA处理与控制模块以及上位机，发射线圈用于产生激励磁场；磁电传感器阵列用于接收二次感应磁场信号；信号调理模块用于处理磁电传感器阵列输出的信号；多通道数据采集模块用于采集调理后的信号，经过A/D转换将模拟信号转换为数字信号；FPGA处理与控制模块用于控制发射波形产生、A/D采集和信号检测；上位机使用算法对采集数据进行反演计算，并实时显示检测结果。本发明使用磁电传感器实现了对二次磁场信号的直接测量，可以获得更高的信噪比，提升探测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 埋入 结构 内部 金属 参数 高分辨率 无损 检测 装置 | ||
【主权项】：
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