[发明专利]一种离子阱质量分析器及其制作方法在审
申请号: | 202110233129.7 | 申请日: | 2021-03-03 |
公开(公告)号: | CN112951705A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 鲍晶伟;张俊良;何芊颖;顾冰艳;张滕宇;吴焕铭 | 申请(专利权)人: | 宁波大学 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;H01J49/06 |
代理公司: | 宁波奥圣专利代理有限公司 33226 | 代理人: | 陈怡菁 |
地址: | 315211 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种离子阱质量分析器及其制作方法,特点是:在一张多层印制电路板上制作的具有中心对称轴的三维结构,多层印制电路板的各层垂直于中心对称轴,多层印制电路板包含多个导电层,各个导电层作为电极,其中最外侧的导电层作为屏蔽电极,用于屏蔽外部电场,次外侧的导电层作为端盖电极,中间的导电层通过平行于中心对称轴的金属镀层相连作为环电极,沿中心对称轴从上到下依次为屏蔽电极、端盖电极、环电极、端盖电极、屏蔽电极,屏蔽电极和端盖电极均沿中心对称轴设有中心圆孔,各个电极之间绝缘,优点是:用多层印制电路板制得的质量分析器结构简单,降低加工难度,质量分辨率高,提高了质谱仪系统的性价比。 | ||
搜索关键词: | 一种 离子 质量 分析器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
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