[发明专利]一种样品材料的电学性能测量方法、装置、设备和介质有效
| 申请号： | 202110232018.4 | 申请日： | 2021-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN113030602B | 公开（公告）日： | 2022-10-21 |
| 发明（设计）人： | 王中林;林世权 | 申请（专利权）人： | 北京纳米能源与系统研究所 |
| 主分类号： | G01R29/24 | 分类号： | G01R29/24 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 王松怀 |
| 地址： | 101400 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种样品材料的电学性能测量方法、装置、设备和介质，该方法中在压电陶瓷上施加交变电压，使固定在压电陶瓷上的探针在样品材料表面振动；样品材料表面的电荷诱导探针与样品材料之间产生感应交流电，根据感应交流电的目标振幅、测量得到的探针与样品材料之间的目标接触电势差值和预先保存的感应交流电的目标振幅确定函数，确定出样品材料表面的目标电荷密度，根据目标接触电势差值和确定的探针的功函数值，确定样品材料表面的目标功函数值，由于不需要在探针与样品材料之间施加交流偏压和直流电压，并且根据确定的感应交流电的目标振幅确定函数确定目标电荷密度，从而提高了确定的样品材料表面的目标功函数值和目标电荷密度的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 样品 材料 电学 性能 测量方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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