[发明专利]一种测量微波相位的装置和方法在审
| 申请号： | 202110223823.0 | 申请日： | 2021-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN113514698A | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 贾凤东;谢锋;张剑;张怀宇;刘修彬;梅炅;钟志萍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大学;清华大学 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;杨方 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量微波相位的装置和方法，装置包括：里德堡原子微波电场传感器、辐射单元、塞曼调制单元和测量单元。本发明利用交流磁场的塞曼效应，将参考信号的相位映射到原子能级振荡的相位，然后直接在里德堡原子微波电场传感器中实现微波拍频信号与交流磁场塞曼调制信号的比较，直接通过拍频信号的振幅信息得到微波电场的相位。相对于传统的通过将拍频信号的波形与参考波形比较得到相位的方法，本发明方法在不需要得到规则正弦拍频信号的情况下，通过直接读取拍频信号的幅度就可以得到待测微波电场的相位，更加灵敏、直接和简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 微波 相位 装置 方法 | ||
【主权项】：
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