[发明专利]一种道砟颗粒劣化指数分析仪有效
| 申请号： | 202110216183.0 | 申请日： | 2021-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN112986069B | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 徐旸;李录壮;郄录朝;余文颖;王红;王树国;许良善;杨轶科 | 申请（专利权）人： | 中国铁道科学研究院集团有限公司铁道建筑研究所;中国铁道科学研究院集团有限公司;中国国家铁路集团有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京巨弘知识产权代理事务所(普通合伙) 11673 | 代理人： | 王辉 |
| 地址： | 100081 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种道砟颗粒劣化指数分析仪，包括壳体(1)、位置调节装置(2)、成像装置(3)和检测仪(4)，所述位置调节装置(2)设置于所述壳体(1)上，所述成像装置(3)和所述检测仪(4)通过所述位置调节装置(2)搭载，所述检测仪(4)功能区设置于所述成像装置(3)成像范围内，所述检测仪(4)用于检测道砟劣化指数并分析劣化状况。检测仪通过提取道砟颗粒的特征信息，基于理论算法进行道砟颗粒的三维模型重建。将道砟颗粒外形函数化，提取道砟颗粒的形状特征进行分析。分别给出针状系数、片状系数、棱角系数和球形度，并通过加权系数得出道砟颗粒的劣化系数和评价标准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 指数 分析 | ||
【主权项】：
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