[发明专利]反射率测量装置有效
| 申请号： | 202110205892.9 | 申请日： | 2021-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN112986190B | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 张立功;李颜涛;骆永石 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47;G01N21/55;G01N21/31;G01N21/35;G01N21/25 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 高一明;郭婷 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供一种反射率测量装置，包括棱形双面镜和平面反射镜，棱形双面镜具有第一反射面和第二反射面，平面反射镜设置在第一反射面的反射光路上，光学元件设置在平面反射镜的反射光路上，探测光入射至第一反射面，并反射到平面反射镜，再经平面反射镜反射至光学元件的表面，光学元件的反射光经第二反射面的反射后沿探测光的原光路射出。与多块反射镜结构相比，本发明只采用棱形双面镜+平面反射镜的结构，探测光只需要经过4次反射，就能被探测器接收，这最大程度地减少了探测光的损失，提高了反射率测量的准确度。同时解决了2个反射镜设计结构中存在的反射镜间距太小不利于调整的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 反射率 测量 装置 | ||
【主权项】：
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