[发明专利]用于双能x射线吸收测定中交叉校准的系统和方法在审

专利信息
申请号: 202110181370.X 申请日: 2021-02-09
公开(公告)号: CN113288184A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 帕布罗·米利奥尼德卡瓦略;苏吉·路易斯·威尔弗里德·穆勒;保罗·马克沃德 申请(专利权)人: 通用电气精准医疗有限责任公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖;钱慰民
地址: 美国威*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了用于在两个或更多个双能x射线吸收测定(DXA)系统之间进行交叉校准的方法和系统。在一个实施例中,用第一系统,在扫描序列期间,将校准体模连同患者一起进行扫描,以获得一个或多个系数,该系数将从来自体模扫描的体模图像中检索出的像素值映射成来自患者扫描的重建患者图像中的图像像素值。一个或多个系数可用于调节和/或比较患者的BMD值,这些BMD值在通过具有与校准体模类似的组成和参数的体模并且用不同的系统来扫描患者时而获得。
搜索关键词: 用于 射线 吸收 测定 交叉 校准 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
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