[发明专利]一种氧化镓X射线探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110176376.8 申请日: 2021-02-09
公开(公告)号: CN112993085A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 齐红基;王超;赛青林;田瑞丰 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/115;H01L31/0224;C23C14/04;C23C14/16;C23C14/18;C23C14/30;C23C14/35;C30B13/00;C30B15/34;C30B29/16;C30B33/02
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种氧化镓X射线探测器及其制备方法,氧化镓X射线探测器的制备方法包括步骤:提供氧化镓单晶;对所述氧化镓单晶进行切割处理得到单晶基体片;对所述单晶基体片进行退火处理得到退火的单晶基体片;在所述退火的单晶基体片上形成叉指电极得到氧化镓X射线探测器。本发明采用氧化镓单晶,并将氧化镓单晶切割后得到单晶基体片,并对单晶基体片进行退火处理,通过退火处理降低氧化镓单晶中自由电子浓度,使得氧化镓X射线探测器在电压下更快响应,缩短了响应时间。
搜索关键词: 一种 氧化 射线 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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