[发明专利]一种调试程序的方法、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110172531.9 | 申请日： | 2021-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN112988570B | 公开（公告）日： | 2023-03-10 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 芯华章科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 李莎 |
| 地址： | 211800 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了一种调试程序的方法、电子设备及存储介质。该方法包括：获取所述程序的可执行文件中的全局偏移表以及与所述程序相关联的多个动态函数；在所述全局偏移表中确定所述多个动态函数中的第一动态函数的第一地址；获取用于替换所述第一动态函数的第二动态函数的第二地址；更新所述全局偏移表以将所述全局偏移表中的所述第一地址替换为所述第二地址；以及基于所述更新的全局偏移表执行所述可执行文件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 调试 程序 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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