[发明专利]一种固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法有效
| 申请号： | 202110163587.8 | 申请日： | 2021-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN112767990B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 吴佳;李礼;吴叶楠 | 申请（专利权）人： | 浙江威固信息技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海氦闪专利代理事务所(普通合伙) 31354 | 代理人： | 李明;袁媛 |
| 地址： | 313200 浙江省湖州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法，包括：被测闪存单元的单粒子翻转与内部控制芯片的单粒子翻转分离计数，仅对被测闪存单元的单粒子翻转计数乘以固态硬盘容量与被测闪存单元容量的比；加上内部控制芯片的单粒子翻转计数，最终作为固态硬盘整体的单粒子翻转计数；用高能粒子辐照被测固态硬盘并开始统计总注量Q，结合依据步骤S2得到的固态硬盘整体的单粒子翻转计数，计算被测固态硬盘的单粒子翻转截面。本发明的固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法，能针对不能准确反映固态硬盘对单粒子效应敏感程度的问题，提高固态硬盘单粒子效应测试的准确度，准确反映固态硬盘对单粒子效应的敏感程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固态 硬盘 粒子 翻转 截面 测试 方法 | ||
【主权项】：
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