[发明专利]高辐射剂量测量方法及系统有效
| 申请号： | 202110162591.2 | 申请日： | 2021-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN112946715B | 公开（公告）日： | 2022-07-26 |
| 发明（设计）人： | 戴志敏;侯会良;林健;陆黄杰;黄跃峰;王建强;钱渊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/10 | 分类号： | G01T1/10;G01T7/00 |
| 代理公司： | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人： | 李柏柏 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高辐射剂量测量方法及系统，方法包括在接收到读取指令后，采集Th‑SINAP晶体剂量片受紫外激发产生的可见荧光数据；筛选并剔除可见荧光数据中利用紫外作为激发光源造成影响的部分，得到实际的可见荧光数据；根据实际的可见荧光数据在利用标定实验确定的可见荧光数据与剂量的关系曲线上读取对应的剂量值，并计算实时剂量率。本发明利用紫外激发荧光并通过采集荧光颜色测得辐射剂量，通过剔除可见荧光数据中利用紫外作为激发光源造成影响的部分，解决了传统技术在测量高辐射剂量(Gy/h‑MGy/h量级)时存在的剂量数据获取时间长、数据获取步骤复杂以及剂量值读取不准确的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 剂量 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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