[发明专利]一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 202110145270.1 | 申请日： | 2021-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN112903596B | 公开（公告）日： | 2023-10-17 |
| 发明（设计）人： | 刘新风;眭新雨;姜传秀;杜文娜 | 申请（专利权）人： | 国家纳米科学中心 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01N21/41;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 巩克栋 |
| 地址： | 100190 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量非线性光学系数的z扫描测量装置及测量方法，所述的z扫描测量装置沿激光光束方向包括依次设置的激光光源、激光传输模块、样品台模块和光探测模块；所述的激光传输模块包括沿激光光束方向依次设置的斩波器、第一凸透镜、微孔、第二凸透镜、1/2波片、线性偏振片和第三凸透镜；所述的样品台模块用于固定待测样品并驱动待测样品沿激光光束方向移动；所述的光探测模块包括沿激光光束方向依次设置的余弦矫正器、光电探测器和锁相放大器。用于测量高散射介质的非线性光学吸收系数，可完全克服传统z扫描中开孔模式下光散射和衍射对测量结果的不利影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 非线性 光学 系数 扫描 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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