[发明专利]一种钝化接触结构制备方法和具有钝化接触结构的晶体硅有效

专利信息
申请号: 202110130675.8 申请日: 2021-01-29
公开(公告)号: CN112768565B 公开(公告)日: 2022-10-04
发明(设计)人: 杜哲仁;赵影文;杨俊楠;张志郢;季根华 申请(专利权)人: 泰州中来光电科技有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/068
代理公司: 北京金之桥知识产权代理有限公司 11137 代理人: 袁芳;耿璐璐
地址: 225500 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种钝化接触结构制备方法,在晶体硅上形成SiOx/AlOx/p‑poly的三层式钝化接触结构,包括:S1:对晶体硅片进行预处理;S2:在预处理后的晶体硅片表面制备AlOx薄膜;S3:在制备完AlOx薄膜的晶体硅片表面再制备非晶硅薄膜,非晶硅薄膜为本征非晶硅薄膜或掺硼非晶硅薄膜;S4:对本征非晶硅薄膜进行硼掺杂处理,本征非晶硅薄膜形成p‑poly层,借助硼掺杂处理中的退火过程,通入过量氧气,在AlOx薄膜下方的晶体硅上形成一层致密SiOx层;或对掺硼非晶硅薄膜进行退火处理,掺硼非晶硅薄膜形成p‑poly层,借助退火过程,通入过量氧气,在AlOx薄膜下方的晶体硅上形成一层致密SiOx层;S5:清洗BSG。本发明可省去单独制备SiOx层的工序,且带负电荷AlOx薄膜的存在可增强p‑poly硅的载流子选择性,从而增强钝化效果。
搜索关键词: 一种 钝化 接触 结构 制备 方法 具有 晶体
【主权项】:
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