[发明专利]一种钝化接触结构制备方法和具有钝化接触结构的晶体硅有效
| 申请号: | 202110130675.8 | 申请日: | 2021-01-29 |
| 公开(公告)号: | CN112768565B | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
| 发明(设计)人: | 杜哲仁;赵影文;杨俊楠;张志郢;季根华 | 申请(专利权)人: | 泰州中来光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/068 |
| 代理公司: | 北京金之桥知识产权代理有限公司 11137 | 代理人: | 袁芳;耿璐璐 |
| 地址: | 225500 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 一种钝化接触结构制备方法,在晶体硅上形成SiOx/AlOx/p‑poly的三层式钝化接触结构,包括:S1:对晶体硅片进行预处理;S2:在预处理后的晶体硅片表面制备AlOx薄膜;S3:在制备完AlOx薄膜的晶体硅片表面再制备非晶硅薄膜,非晶硅薄膜为本征非晶硅薄膜或掺硼非晶硅薄膜;S4:对本征非晶硅薄膜进行硼掺杂处理,本征非晶硅薄膜形成p‑poly层,借助硼掺杂处理中的退火过程,通入过量氧气,在AlOx薄膜下方的晶体硅上形成一层致密SiOx层;或对掺硼非晶硅薄膜进行退火处理,掺硼非晶硅薄膜形成p‑poly层,借助退火过程,通入过量氧气,在AlOx薄膜下方的晶体硅上形成一层致密SiOx层;S5:清洗BSG。本发明可省去单独制备SiOx层的工序,且带负电荷AlOx薄膜的存在可增强p‑poly硅的载流子选择性,从而增强钝化效果。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 钝化 接触 结构 制备 方法 具有 晶体 | ||
【主权项】:
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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