[发明专利]一种芯片验证方法、装置及系统有效
| 申请号： | 202110121144.2 | 申请日： | 2021-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN112765924B | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 高罗莹;蒋常龙;彭赢 | 申请（专利权）人： | 新华三半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367;G06F115/02 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 马敬;项京 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国（四川）自由*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种芯片验证方法、装置及系统，该方法应用于服务器中，所述服务器外接有需要验证的芯片的验证平台上，所述服务器包含有控制平面CP程序，所述芯片包括中央处理器CPU和用于与所述服务器通信的高速接口；所述方法，包括：所述服务器在确定所述CPU执行完用于芯片验证的初始化程序后，加载所述CP程序；运行所述CP程序以通过所述高速接口与所述芯片进行交互，完成所述芯片的功能验证。采用上述方法，在验证平台上进行芯片验证时，实现了芯片的高效验证。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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