[发明专利]一种针对自由曲面的摆线式扫描测量轨迹规划方法及系统有效
| 申请号： | 202110115946.2 | 申请日： | 2021-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN112859736B | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 胡鹏程;黄丽华;陈吉红 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G05B19/19 | 分类号： | G05B19/19 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种针对自由曲面的摆线式扫描测量轨迹规划方法及系统，属于自由曲面的五轴连续式测量领域，目的是通过避免测头旋转轴的频繁加减速以提高机器的动态性能，从而提高测量效率。本发明包括测头轨迹曲线生成步骤、摆线步长确定步骤、摆线扫描轨迹扩展步骤。通过本发明，在扫描测量过程中，不仅可使C轴始终保持相同的旋转方向，必要时还可保持恒定的角速度，避免了因C轴旋转方向突变引起的振动，显著提升测量机的动态性能，还可显著缩短测头轨迹长度，减少线性轴的运动量，提高测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 自由 曲面 摆线 扫描 测量 轨迹 规划 方法 系统 | ||
【主权项】：
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