[发明专利]一种闪存芯片的测试装置在审
| 申请号： | 202110105382.4 | 申请日： | 2021-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN112863590A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 王玉伟 | 申请（专利权）人： | 深圳市卓然电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京隆源天恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11473 | 代理人： | 吴航 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市龙岗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，该装置包括测试机底座(31)，测试平台，测试托架(25)，垂直支架(37)，进步电机(38)，控制箱，进步电机导轨(14)。使用该装置后，解决操作员手摇升降的体力消耗，也解决了人工操作时快时慢，产量波动，效能损失的问题，极大的提高了设备利用率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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