[发明专利]用于微波模块的调试装置及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202110102000.2 申请日: 2021-01-26
公开(公告)号: CN112924780B 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 汪宁;方航;蔡庆刚;叶贝贝;曹振玲 申请(专利权)人: 安徽华东光电技术研究所有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;H01P11/00
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 董杰
地址: 241000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种用于微波模块的调试装置,底座分上腔和下腔,上腔设有两个凹槽,其中一个凹槽形状为待调试微波模块形状,另外一个凹槽设有第一微波电路板;下腔设有第二微波电路板;底座侧边设有第一、第二射频连接器、第一、第二DC绝缘子和一个接地柱;还公开了一种制作方法。该调试装置能快速实现调试,无需每调试一个模块时都需用电烙铁在微带导线焊接调试电容,直接用调试电容简易装置对需要焊接调试电容的微带导线进行按压,实现调试电容的匹配,大大省去焊接时间,而且避免焊接对模块的污染。同时,该制作方法简单,使用该方法制作的调试装置进行调试大大节省了调试时间,为批量化调试提供了有力保障。
搜索关键词: 用于 微波 模块 调试 装置 及其 制作方法
【主权项】:
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