[发明专利]三轴数控机床的Z向线性位移与误差测量方法及系统有效
| 申请号： | 202110070943.1 | 申请日： | 2021-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN112902848B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 苗恩铭;骆辉;冉靖;吕世鑫;李淋 | 申请（专利权）人： | 重庆理工大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人： | 周玉玲 |
| 地址： | 400054 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及三轴数控机床的Z向线性位移与误差测量方法及系统，安装芯棒与光学位移传感器等测量装置：初始化光学位移传感器，至少测量两组数据，并且每组数据按如下方式测量：控制机床主轴带动芯棒按设定位移量进行Z向移动后，控制机床主轴带动芯棒以转速S进行旋转，旋转周期n3；在芯棒旋转过程中，光学位移传感器测量自身到所述测量面的距离，每个旋转周期内测量x个数据，每组数据的数据量为n×x个；根据每组数据的周期性波动特征，采用平均法消除每组数据的测量误差，从而计算出误差消除后的光学位移传感器到测量面之间的距离，即修正距离；采用两组数据分别对应的两个修正距离作差以计算出芯棒的运动位移量，以运动位移量作为Z向线性位移测量值。 | ||
| 搜索关键词： | 数控机床 线性 位移 误差 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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