[发明专利]一种基于浅刻蚀的微结构金属图形剥离制备方法在审

专利信息
申请号: 202110058761.2 申请日: 2021-01-16
公开(公告)号: CN113257673A 公开(公告)日: 2021-08-13
发明(设计)人: 何磊磊;邓军;冯媛媛;许晓芳 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: H01L21/3213 分类号: H01L21/3213;H01L21/67
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种基于浅刻蚀的微结构金属图形剥离制备方法,属于半导体光电子或微细加工领域。本发明将常规的曝光‑溅射/蒸发‑剥离工艺改变为曝光‑浅刻蚀‑溅射/蒸发‑剥离工艺,实现微结构金属图形的制备,工艺具有更好的可靠性和重复性。刻蚀工艺可以迅速的消除微小图形中残留的光刻胶底膜,避免了底膜引起的微图形的剥离。通过对刻蚀时间和参数的控制,在清除残胶的同时,可以清除材料表面吸附的各种杂质,并在材料表面形成很浅的刻蚀图形,使下一步溅射/蒸发的薄金属与材料表面结合的牢固,大幅降低了后续剥离工艺对金属微结构图形的损伤,保证了工艺的可靠性和重复性。
搜索关键词: 一种 基于 刻蚀 微结构 金属 图形 剥离 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
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