[发明专利]一种基于浅刻蚀的微结构金属图形剥离制备方法在审
| 申请号: | 202110058761.2 | 申请日: | 2021-01-16 |
| 公开(公告)号: | CN113257673A | 公开(公告)日: | 2021-08-13 |
| 发明(设计)人: | 何磊磊;邓军;冯媛媛;许晓芳 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
| 主分类号: | H01L21/3213 | 分类号: | H01L21/3213;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 沈波 |
| 地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
| 摘要: | 本发明公开了一种基于浅刻蚀的微结构金属图形剥离制备方法,属于半导体光电子或微细加工领域。本发明将常规的曝光‑溅射/蒸发‑剥离工艺改变为曝光‑浅刻蚀‑溅射/蒸发‑剥离工艺,实现微结构金属图形的制备,工艺具有更好的可靠性和重复性。刻蚀工艺可以迅速的消除微小图形中残留的光刻胶底膜,避免了底膜引起的微图形的剥离。通过对刻蚀时间和参数的控制,在清除残胶的同时,可以清除材料表面吸附的各种杂质,并在材料表面形成很浅的刻蚀图形,使下一步溅射/蒸发的薄金属与材料表面结合的牢固,大幅降低了后续剥离工艺对金属微结构图形的损伤,保证了工艺的可靠性和重复性。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 基于 刻蚀 微结构 金属 图形 剥离 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





