[发明专利]一种堆叠测试机通道的高压测试方法在审
| 申请号： | 202110025104.8 | 申请日： | 2021-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN112834913A | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 魏津;张经祥;杜宇 | 申请（专利权）人： | 胜达克半导体科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人： | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址： | 201799 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种堆叠测试机通道的高压测试方法。具体方法如下：S1：上电初始化开始；S2：开始自检测试，若自检测试通过，判断是否用户分组配置；若不通过，则将不通过信号发给主控系统；S3：判断是否用户分组配置，若需要，则进行通道堆叠处理配置及抑制电路噪声处理配置；若不需要，则直接进入通道配置；S4：进入通道配置；S5：进行通道自检，若自检成功的，则整机完成自检；若自检不成功的，则将不成功信号发给主控系统；S6：则整机完成自检；S7：结束。同现有技术相比，将不同的电压输出和检测通道做了隔离，使得不同通道可以做堆叠使用，每路通道可以输出8‑10V的电压，通过正负端的堆叠，从而达到输出高压的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 堆叠 测试 通道 高压 方法 | ||
【主权项】：
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