[发明专利]用于低温电子显微术的样品支架和样品冷却系统在审

专利信息
申请号: 202080068057.9 申请日: 2020-10-05
公开(公告)号: CN114667586A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: D.克洛斯;B.阿普克;R.E.索恩 申请(专利权)人: 米特根有限公司
主分类号: H01J37/26 分类号: H01J37/26;G21K5/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王增强
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于单粒子低温电子显微术的样品支架设计和样品冷却装置,可简化了样品制备和处理,显著减少误差,提高结果重现性,并显著降低总成本。该系统由基于网格的样品支架系统、网格处理工具、网格吸干工具、投入冷却系统和射流冷却系统组成。
搜索关键词: 用于 低温 电子 显微 样品 支架 冷却系统
【主权项】:
暂无信息
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