[发明专利]用于低温电子显微术的样品支架和样品冷却系统在审
申请号: | 202080068057.9 | 申请日: | 2020-10-05 |
公开(公告)号: | CN114667586A | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | D.克洛斯;B.阿普克;R.E.索恩 | 申请(专利权)人: | 米特根有限公司 |
主分类号: | H01J37/26 | 分类号: | H01J37/26;G21K5/08 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王增强 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用于单粒子低温电子显微术的样品支架设计和样品冷却装置,可简化了样品制备和处理,显著减少误差,提高结果重现性,并显著降低总成本。该系统由基于网格的样品支架系统、网格处理工具、网格吸干工具、投入冷却系统和射流冷却系统组成。 | ||
搜索关键词: | 用于 低温 电子 显微 样品 支架 冷却系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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