[发明专利]校正参数计算方法、位移量计算方法、校正参数计算装置及位移量计算装置在审
| 申请号： | 202080067154.6 | 申请日： | 2020-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN114450552A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 今川太郎;野田晃浩;丸山悠树;日下博也 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G06T5/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 高迪 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 校正参数计算方法包括：第1取得步骤(S11)，从第1摄像装置(10)取得通过对对象物(60)进行摄像而得到的第1图像数据；第2取得步骤(S12)，从第2摄像装置(20)取得距对象物(60)的第2距离数据、以及通过对对象物(60)进行摄像而得到的第2图像数据；建立对应步骤(S13)，将第1图像数据及第2图像数据中的对象物(60)的位置建立对应；估计步骤(S14)，估计第1摄像装置(10)的位置；距离计算步骤(S15)，计算从第1摄像装置(10)到对象物(60)的第1距离数据；以及参数计算步骤(S16)，使用第1距离数据计算用于将对象物(60)的像素位移量换算为实际尺寸位移量的校正参数。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 参数 计算方法 位移 计算 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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