[发明专利]用于粒子检测的AC耦合系统在审
| 申请号： | 202080063598.2 | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN114402414A | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | R·沃克;D·德福特;D·卡兹 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/26 | 分类号： | H01J49/26;G01N27/62;H01J49/00 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于检测高能粒子的系统和方法，所述系统包括检测器单元和AC耦合器，检测器单元具有差分偏置检测器，差分偏置检测器具有用于耦接至正偏压的第一端子和用于耦接至负偏压的第二端子，AC耦合器具有电容耦接的输入输出正端子和负端子。所述电容耦合被嵌入在传输线结构中，输入正端子耦接至检测器的第一端子，并且输入负端子耦接至检测器的第二端子。一些优点包括减少或消除以下几项：储存电容器电感与检测器电容谐振，由于同轴线缆与AC耦合器电路的共模激励而引起的振铃，以及由于远程安装AC耦合器、由被AC耦合器阻挡的低频分量的反射所引起的下冲和振铃。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 粒子 检测 ac 耦合 系统 | ||
【主权项】：
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