[发明专利]用于高性能电子显微镜的方法在审
| 申请号： | 202080062604.2 | 申请日： | 2020-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN114341926A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | Z·奥特维诺斯基;R·布罗姆伯格;D·伯雷克 | 申请（专利权）人： | 得克萨斯大学体系董事会 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 周阳君 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了用于校正电子显微镜图像(包括cryo‑EM图像)中的一个或多个图像像差的方法。该方法包括获得具有一个或多个已知特性的内部参考网格样本的多个电子显微镜(EM)图像，所述多个电子显微镜图像是针对多个光学条件和针对多个协调的波束‑图像移位而获得的。除了其它特征之外，该方法还尤其可以包括确定像差校正函数，该像差校正函数使用内核规范相关分析(KCCA)来预测被成像的区域中的每个点的像差。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 性能 电子显微镜 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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