[发明专利]孔隙-超表面和混合折射-超表面成像系统在审
| 申请号： | 202080060755.4 | 申请日： | 2020-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN114286953A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | R·C·德夫林;J·格拉夫 | 申请（专利权）人： | 梅特兰兹股份有限公司 |
| 主分类号： | G02B1/00 | 分类号： | G02B1/00;G02B5/18;G02B27/44 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 周阳君 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供并有常规的光学元件和超表面元件及光源和/或检测器的混合成像系统，及制造以及操作此类光学布置的方法。系统和方法描述在照明源和传感器中集成孔隙与超表面元件和集成折射光学器件与超表面元件。 | ||
| 搜索关键词： | 孔隙 表面 混合 折射 成像 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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