[发明专利]检查射频器件的方法以及射频器件在审
| 申请号： | 202080054937.0 | 申请日： | 2020-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN114144686A | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | C·魏克曼 | 申请（专利权）人： | 艾尔康系统有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 孙鹏;周学斌 |
| 地址： | 德国达*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种检查射频器件（1）的方法，所述方法允许通过改变导电元件（13）旁边或附近的可调介电材料（4）的介电材料性质来修改射频信号沿着导电元件（13）的传输和/或操控，所述方法包括以下步骤：在传递通过可调介电材料（4）之前以入射光强度和/或以已知入射相位将光束（12）通过第一基板层（2）的光学透明区域部分发射到可调介电材料（4）的测试体积中；经由被布置在第一基板层（2）的光学透明区域部分处的第一透明测试电极（6）、以及与第一测试电极相对地布置在第二基板层（3）处的第二测试电极（8）将偏置场应用到测试体积；取决于所述偏置场在传递通过可调介电材料（4）之后测量所述光束（12）的出射光强度和/或出射相位；以及根据所述偏置场基于出射光强度和入射光强度的商和/或基于所述光束（12）的入射相位与出射相位之间的相位关系来确定可调介电材料（4）的至少一个特性性质。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 射频 器件 方法 以及 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于艾尔康系统有限责任公司，未经艾尔康系统有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202080054937.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于电连接计量设备和分布式能源设备的系统
- 下一篇：用于载具的灵活电池系统
