[发明专利]用于测量位移的光学换能器及方法在审

专利信息
申请号: 202080037400.3 申请日: 2020-04-02
公开(公告)号: CN114175683A 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 罗纳德·德克;雷内·海德曼;阿恩·莱因森;卡塔林·拉扎尔;劳伦·内武;科林·斯蒂尔;安德森·皮雷·桑格拉尼;戈兰·斯托扬诺维奇;西蒙·穆勒 申请(专利权)人: AMS国际有限公司
主分类号: H04R23/00 分类号: H04R23/00
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 邰凤珠;刘继富
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于测量膜片(10)的位移的集成式光学换能器(1),包括膜片(10)、透镜元件(23)和衬底主体(20),该衬底主体具有波导结构(21)和耦合元件(22)。膜片(10)远离衬底主体(20)并且基本平行于衬底主体(20)的主延伸平面设置。波导结构(21)配置成将光从光源(30)引导到耦合元件(22),并且从耦合元件(22)引导到光电检测器(31)。耦合元件(22)被配置成将波导结构(21)中的光的至少一部分耦合到在耦合元件(22)与膜片(10)之间的光路上,并且将膜片(10)的表面反射的光从光路耦合到波导结构(21)中。透镜元件(23)设置在光路上,使得光路上的光穿过透镜元件(23)。
搜索关键词: 用于 测量 位移 光学 换能器 方法
【主权项】:
暂无信息
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