[发明专利]一种用于对结构进行测量的方法、以及一种用于限定对所述结构进行测量的最优方法的过程

摘要

一种用于对结构(1)进行测量的方法包括：a)通过将结构(1)离散为多个单元并且将每个单元转而离散为节点来限定该结构(1)的具体参数，b)对每个节点限定具体参数，包括节点中的旋转，c)限定能够使用的传感器的数目，d)施加作为传感器的有效数目和这些传感器的相互距离的函数的特定约束，e)使用分支且定界或遗传或神经类型的精确算法或以上各者的组合，以计算出解决方案(Si)，该解决方案识别出多个第二(N)节点，其中至少一个传感器被定位在这些节点上，并且使读取的旋转总和最大化，f)根据由步骤e)产生的解决方案(Si)，将传感器定位在结构(1)上。