[外观设计]带半导体测试图形用户界面的半导体测试设备显示器有效
| 申请号: | 202030094446.1 | 申请日: | 2020-03-19 | 
| 公开(公告)号: | CN306328603S | 公开(公告)日: | 2021-02-12 | 
| 发明(设计)人: | 蒙南芳;邓标华;刘海 | 申请(专利权)人: | 武汉精鸿电子技术有限公司 | 
| 主分类号: | 14-02 | 分类号: | 14-02 | 
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 | 
| 地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 | 
| 权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 | 
| 摘要: | 1.本外观设计产品的名称:带半导体测试图形用户界面的半导体测试设备显示器。2.本外观设计产品的用途:用于半导体器件老化测试的人机交互。3.本外观设计产品的设计要点:在于显示器的图形用户界面。4.最能表明设计要点的图片或照片:主视图。5.本外观设计产品的背面为使用时不容易看到或看不到的部位,省略后视图;不是设计要点,省略左视图;不是设计要点,省略右视图;不是设计要点,省略俯视图;不是设计要点,省略仰视图。6.图形用户界面的用途:用于半导体器件老化测试的人机交互。7.图形用户界面在产品中的区域:位于显示器的显示区域。8.图形用户界面的人机交互方式:通过键盘、鼠标或触控方式。9.图形用户界面的变化状态说明:界面变化状态图1表示温度监控、PLC参数设置、程序加载运行的界面;界面变化状态图2表示显示有关测试结果的信息界面;界面变化状态图3表示监视和显示指定区域内Slot的状态;界面变化状态图4表示老化软件输出的事件日志来检查机器中发生的事件的状态;界面变化状态图5表示设置测试程序规范,手动选择测试项来启动和停止测试程序的执行;界面变化状态图6表示查看UFS参数和设置参数的界面;界面变化状态图7表示设置账户权限的界面;界面变化状态图8表示Chamber工具显示、Chamber信息和Chamber温度曲线;界面变化状态图9表示检测设备电扇、风扇灯和电源状态;界面变化状态图10表示系统升级以及箱体配置、区域配置设置界面。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 测试 图形 用户界面 设备 显示器 | ||
【主权项】:
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