[实用新型]一种半导体电路检查装置

摘要

本实用新型公开了一种半导体电路检查装置，包括第一装置外壳顶针和第四装置外壳，所述第一装置外壳内部两端顶端与底端皆开设有第一滑槽，且第一滑槽的内部皆竖直安装有导杆，所述导杆的外侧皆设置有第一弹簧，且第一弹簧顶端导杆的外侧皆设置有第二滑块，所述第一滑槽顶端第一装置外壳的内壁皆开设有第一凹槽，且第一凹槽的内部皆铰接有铰接板。该半导体电路检查装置，通过第三装置外壳受到震动的时候带动铰接板进行转动，同时通过铰接板带动伸缩杆驱动第二滑块进行移动，当第二滑块在导杆外侧进行移动的时候对第一弹簧进行挤压，使得装置在使用的时候对装置进行避震，防止对装置造成损坏。