[实用新型]射频探针测试装置有效

专利信息
申请号: 202022890896.9 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN213750024U 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 周夏军;李银龙 申请(专利权)人: 浙江中冀科技有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/28
代理公司: 桂林文必达专利代理事务所(特殊普通合伙) 45134 代理人: 张学平
地址: 315300 浙江省宁波市慈*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了射频探针测试装置,所述调节组件位于所述底座的上方,所述测试组件位于所述底座的上方,所述下压组件位于所述测试组件的上方,所述竖板与所述底座固定连接,并位于所述底座的上方,所述竖板上设有两个竖向滑槽,所述横板位于所述竖板的上侧,所述探针板与两个所述竖向滑槽相配合,所述射频探针位于所述探针板的下方,所述探针头位于所述射频探针的下方,所述弹簧设置于所述射频探针内部,且所述弹簧的两端分别与所述射频探针和所述探针头相接触,通过上述结构设计,能够使得对PCBA板保护的同时,也便于对PCBA板的不同型号进行调节测试。
搜索关键词: 射频 探针 测试 装置
【主权项】:
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