[实用新型]平行处理的多合一测试系统有效
| 申请号： | 202022501067.7 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN213457162U | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 庄世昌;黄喻鸿;洪春香;林世傑;蒋诸华 | 申请（专利权）人： | 台达电子工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/40 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 王玉双;张燕华 |
| 地址： | 中国台湾桃园市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本案提供一种平行处理的多合一测试系统，适用于对多个电子装置同步进行测试，且包含计算机主机、电源、分析装置、多个电子负载及待测的电子装置等。电源提供电能予电子装置。分析装置连接于计算机主机、电子负载、测试装置及电子装置，且能够撷取待测的电子装置的电气信号数据并提供予计算机分析使用。电子负载连接于计算机主机及电子装置，并对电子装置进行测试。计算机主机用于设定及实时获取电源、分析装置、电子负载、测试装置及电子装置中的电性参数并做进一步的分析，在测试执行一段时间后，计算机主机依据电性参数及电气信号数据而产生电子装置的测试结果与其分析报表。 | ||
| 搜索关键词： | 平行 处理 合一 测试 系统 | ||
【主权项】：
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