[实用新型]一种用于芯片制造中抽检装置有效

专利信息
申请号: 202022497652.4 申请日: 2020-11-03
公开(公告)号: CN213716864U 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 校微娜 申请(专利权)人: 上海禾本电子科技有限公司
主分类号: H01L21/677 分类号: H01L21/677;H01L21/66;B08B1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200030 上海市徐*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种用于芯片制造中抽检装置,包括抽检装置主体,所述抽检装置主体的一侧活动连接有移动板,所述移动板的顶部固定连接有卡扣,所述移动板的两侧均固定连接有两个拉环,所述移动板的底部活动连接有传送带;通过设计的移动板、第一固定杆、第一轴承、活动杆、拉环、连接杆、卡扣、防滑垫,安装移动板,第一轴承的外壁活动连接有第一固定杆,传送带的底部固定连接有第二固定杆,第二固定杆的外壁固定连接有连接杆,更好的固定移动板在工作的时候不易晃动,有效的解决了机器只能一个一个的对芯片进行检查,导致工作量增加,使得该机器使用便捷,操作方便,此时使设备的使用性能增加。
搜索关键词: 一种 用于 芯片 制造 抽检 装置
【主权项】:
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