[实用新型]一种同时测量晶体重量和厚度的装置有效
| 申请号： | 202022411481.9 | 申请日： | 2020-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN213396954U | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 张超;周敏;刘圆圆 | 申请（专利权）人： | 山东天岳先进科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01G17/00;G01B17/02 |
| 代理公司： | 北京君慧知识产权代理事务所(普通合伙) 11716 | 代理人： | 刘德顺 |
| 地址： | 250118 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种同时测量晶体重量和厚度的装置，其包括：基座，所述基座连接安装支架；称重装置，所述称重装置设于基座上，所述称重装置上放置待测晶体并对待测晶体进行称重；测距仪，所述测距仪安装在安装支架上，所述测距仪与称重装置之间的垂直距离为固定距离，所述测距仪用于测量测距仪与待测晶体表面的距离。该装置可以同时测量出晶体的重量和厚度，无需转移晶体，避免在测量过程中对晶体造成破损，且工作效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 同时 测量 晶体 重量 厚度 装置 | ||
【主权项】：
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