[实用新型]一种射频芯片测试装置有效
| 申请号： | 202022389443.8 | 申请日： | 2020-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN213581242U | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 潘晓燕 | 申请（专利权）人： | 正芯半导体技术（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/18;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京成实知识产权代理有限公司 11724 | 代理人： | 陈永虔 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区华强北街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种射频芯片测试装置，包括工作台和射频强度测试仪，所述工作台顶面安装有钢板，且钢板顶面一端安装有射频强度测试仪，并且钢板顶面安装有测试箱，所述测试箱顶面设置有上盖，且测试箱内部固定摆放有安装台，并且测试箱侧壁固定安装有加热丝，所述测试箱一侧贯穿连接有电连接线，且电连接线与测试箱密封连接。有益效果：本实用新型采用了测试箱、充气泵、抽气泵和加热丝，可充分测试射频芯片的极限耐候性，便于工作人员了解射频芯片的极限工作压强和极限工作温度，从而得出更加严谨和科学的射频芯片使用环境要求，同时，本装置结构简单，可模拟出不同恶劣工况，便于工作人员对射频芯片进行极限测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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